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Um transistor de rádio frequência (RF) foi projetado em um circuito integrado. Um engenheiro precisa realizar testes neste novo produto para verificar se suas características estão de acordo com o projeto. Mas por se tratar de uma análise em altas frequências, os procedimentos convencionais se tornam imprecisos. Quando em baixas freqüências, sabe-se que as perdas e fugas nos conectores e cabos são irrelevantes na maioria dos casos. Porém, quando se mede em RF, essas distorções conduzem a resultados errôneos e inviabilizam as medidas. Por isso, o engenheiro responsável decidiu utilizar um equipamento adequado para medição de parâmetros de espalhamento, ou parâmetros S. Para tanto, considerou o transistor em teste como uma rede de 2 (duas) portas, nomeadas de porta 1 e porta 2. Para este cenário de testes, responda ao solicitado nos itens a seguir.

a) O tipo de equipamento que deve ser utilizado pelo engenheiro para a medição dos parâmetros S.

b) A importância da calibração deste tipo de equipamento para testes em RF.

c) Os parâmetros S podem ser medidos e qual a definição de cada um deles.